本申請實(shí)施例提供了一種測試結(jié)構(gòu)，可以包括第一金屬線、第二金屬線，以及第一金屬線和第二金屬線之間的介質(zhì)層，第一金屬線用于連接第一電壓，第二金屬線用于連接第二電壓，其中，第一金屬線通過連接入一個(gè)電編程熔絲來連接第一電壓，和/或，第二金屬線通過連接入一個(gè)電編程熔絲來連接第二電壓。第一電編程熔絲和第二電編程熔絲在正常工作時(shí)電阻較小，但是在介質(zhì)層擊穿之后整個(gè)電路回路中產(chǎn)生較大的電流，此時(shí)第一金屬接入的電編程熔絲和/或第二金屬接入的電編程熔絲的電阻驟然變大，此時(shí)的電編程熔絲由于大電阻起到分壓/降電流作用，抑制了電介質(zhì)擊穿處的電流而減弱擊穿損傷，利于后期對擊穿位置的物理失效分析。