本發(fā)明公開了一種實現(xiàn)存儲器測試儀提高同測數(shù)的方法，包括：1）通過截取探針臺與存儲器測試儀之間的通訊信息，實現(xiàn)將探針臺上的同測數(shù)信息轉(zhuǎn)換為存儲器測試儀所擁有的同測數(shù)信息，并發(fā)送給存儲器測試儀；2）存儲器測試儀采用其原有的同測數(shù)進行測試，測試時采用應用同測與系統(tǒng)同測相結(jié)合的方法，對實際翻倍后的同測數(shù)量的芯片進行測試；3）獲得測試結(jié)果；4）將實際物理芯片失效情況組合為存儲器測試儀同測數(shù)信息包，在存儲器測試儀與探針臺通訊時，再將存儲器測試儀同測數(shù)信息包拆分為探針臺上同測數(shù)信息。本發(fā)明實現(xiàn)系統(tǒng)芯片同測數(shù)擴展為更多的芯片同測，加快測試速度，節(jié)省測試費用，降低生產(chǎn)成本。