本發(fā)明涉及測試SRAM的方法、裝置、計算機(jī)設(shè)備及存儲介質(zhì)；其中，方法，包括：對待測試的內(nèi)存進(jìn)行標(biāo)識，生成測試數(shù)據(jù)；對待測試的內(nèi)存進(jìn)行讀操作，獲取讀數(shù)據(jù)；將測試數(shù)據(jù)與讀數(shù)據(jù)進(jìn)行比較測試，獲取比較測試結(jié)果，并輸出比較測試結(jié)果至待測試的內(nèi)存。本發(fā)明支持在運(yùn)行真實(shí)應(yīng)用場景的時候，同時測試相關(guān)的SRAM，用于支持檢測一些極端環(huán)境引發(fā)的問題，能夠迅速排查是否是SRAM失效引起的，也可以用于工藝角在實(shí)際應(yīng)用場景中可能帶來的問題，能夠使mbist測試更健壯，實(shí)際使用靈活，能夠更好地滿足需求。