本發(fā)明一種晶圓測(cè)試結(jié)果加嚴(yán)修正篩選方法，使用Map工具軟件，定義邊緣失效芯片、連續(xù)失效芯片、孤立有效芯片的特征識(shí)別算法模型，并基于邊緣失效芯片、連續(xù)失效芯片、孤立有效芯片所在區(qū)域的圖形識(shí)別，可對(duì)該區(qū)域通過(guò)晶圓測(cè)試的有效芯片進(jìn)行修正，從而將連續(xù)失效芯片區(qū)域邊界上的晶圓測(cè)試結(jié)果進(jìn)行加嚴(yán)修正后轉(zhuǎn)置輸出，使得晶圓測(cè)試結(jié)果與工藝關(guān)聯(lián)，并將潛在失效芯片過(guò)濾，從而提高識(shí)別失效芯片的效率和芯片產(chǎn)品輸出的整體可靠性。