權(quán)利要求
1.低膨脹硅基復(fù)合材料,其特征在于,所述低膨脹硅基復(fù)合材料包括:多孔陶瓷和氧化亞硅; 其中, 氧化亞硅的化學(xué)式為SiO x,0<x<1.6; 所述低膨脹硅基復(fù)合材料以所述多孔陶瓷作為骨架,所述氧化亞硅分布在所述多孔陶瓷的孔隙內(nèi); 所述低膨脹硅基復(fù)合材料的振實(shí)密度在0.8g/cm 3-1.3g/cm 3之間; 所述多孔陶瓷包括:多孔SiC、多孔氮化硅、多孔氮化鎵、多孔氮化鈦、多孔氮化硼中的一種或多種; 所述多孔陶瓷的粒徑Dv50在20nm-100μm之間; 所述多孔陶瓷的孔隙的孔徑在1nm-20μm之間; 所述多孔陶瓷的孔隙率在50%-90%之間。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低膨脹硅基復(fù)合材料,其特征在于,所述氧化亞硅占所述低膨脹硅基復(fù)合材料總質(zhì)量的百分比為50%-90%; 所述多孔陶瓷占所述低膨脹硅基復(fù)合材料總質(zhì)量的百分比為10%-50%。 3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低膨脹硅基復(fù)合材料,其特征在于,所述低膨脹硅基復(fù)合材料還包括碳包覆層;所述碳包覆層的質(zhì)量占所述低膨脹硅基復(fù)合材料總質(zhì)量的百分比為0-20%。 4.上述權(quán)利要求1-3任一所述的低膨脹硅基復(fù)合材料的制備方法,其特征在于,所述制備方法包括: 將多孔陶瓷和氧化亞硅進(jìn)行復(fù)合,得到低膨脹硅基復(fù)合材料; 其中,所述復(fù)合的方法包括:液相法或固相法; 所述多孔陶瓷包括:多孔SiC、多孔氮化硅、多孔氮化鎵、多孔氮化鈦、多孔氮化硼中的一種或多種;所述多孔陶瓷的粒徑Dv50在20nm-100μm之間;所述多孔陶瓷的孔隙的孔徑在1nm- 20μm之間;所述多孔陶瓷的孔隙率在50%-90%之間; 所述氧化亞硅占所述低膨脹硅基復(fù)合材料總質(zhì)量的百分比為50%-90%; 所述多孔陶瓷占所述低膨脹硅基復(fù)合材料總質(zhì)量的百分比為10%-50%。 5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的制備方法,其特征在于,所述液相法包括:將所述氧化亞硅均勻分散于有機(jī)溶劑中,得到預(yù)混溶液; 將所述多孔陶瓷加入到所述預(yù)混溶液中,繼續(xù)均勻分散,得到混合溶液; 將所述混合溶液置于高溫爐內(nèi),升溫至700℃-1000℃,保溫2小時(shí)-5小時(shí),出料后進(jìn)行粉碎和篩分,得到所述
聲明:
“低膨脹硅基復(fù)合材料及其制備方法和應(yīng)用” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)