本發(fā)明公開(kāi)了一種通過(guò)X射線對(duì)含有金屬繩的被測(cè)目標(biāo)進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)的系統(tǒng)以及一種通過(guò)X射線對(duì)含有金屬的被測(cè)目標(biāo)進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)的方法。所述系統(tǒng)包括:超高壓發(fā)生器、X射線發(fā)生器、碘化銫傳感器、光纖模塊、控制模塊、計(jì)算機(jī)和電源模塊。所述方法包括步驟:記錄一維能量變化數(shù)據(jù)、拼接成二維圖像、轉(zhuǎn)存到GPU中、暗電流消除、增益調(diào)整、金屬區(qū)域分割、缺陷檢測(cè)、轉(zhuǎn)儲(chǔ)到計(jì)算機(jī)內(nèi)部存儲(chǔ)器、特征提取、模式識(shí)別并輸出結(jié)果。本發(fā)明通過(guò)X射線、GPU計(jì)算、圖像處理算法解決了其他方法檢測(cè)精度低、反饋周期長(zhǎng)、離線抽查、效率低等缺陷,可滿(mǎn)足皮帶生產(chǎn)廠家及礦山、港口、發(fā)電廠、鋼廠、水泥廠等多種終端用戶(hù)的需求。
聲明:
“通過(guò)X射線檢測(cè)含金屬被測(cè)物的無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)和方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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