本發(fā)明公開了一種基于機(jī)器視覺的電子元件檢查方法，包括如下步驟：步驟一、收集電子元件表面的損害圖像樣本和電子元件無損害的圖像樣本，同時(shí)收集電子元件表面的損害圖像樣本對(duì)應(yīng)的超聲波探傷信號(hào)以及電子元件無損害的圖像樣本對(duì)應(yīng)的超聲波探傷信號(hào)；步驟二、對(duì)電子元件表面的損害圖像的損壞種類進(jìn)行人工標(biāo)注，得到標(biāo)注后的電子元件表面的損害圖像樣本。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了對(duì)電子元件的視覺檢測(cè)與超聲檢測(cè)相結(jié)合的自動(dòng)檢測(cè)方法，通過兩種檢測(cè)方法結(jié)合，大大提高了檢測(cè)的準(zhǔn)確性，此外實(shí)現(xiàn)了電子元件的自動(dòng)檢測(cè)，節(jié)省了人工，有效降低了漏檢率。