光學(xué)性能檢測(cè)裝置及光學(xué)性能檢測(cè)方法 931     

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本發(fā)明公開(kāi)了一種光學(xué)性能檢測(cè)裝置及光學(xué)性能檢測(cè)方法，所述光學(xué)性能檢測(cè)裝置包括：雷達(dá)底座，與所述雷達(dá)底座相對(duì)設(shè)置的背景板，驅(qū)動(dòng)所述背景板移動(dòng)，以調(diào)節(jié)所述雷達(dá)底座與所述背景板之間的距離的移動(dòng)組件，以及用于拍攝所述背景板的相機(jī)組件；所述背景板靠近所述雷達(dá)底座的一側(cè)設(shè)有刻度。本發(fā)明的光學(xué)性能檢測(cè)裝置及光學(xué)性能檢測(cè)方法可以同時(shí)測(cè)出雷達(dá)的光束發(fā)散角以及出射光軸水平角度，節(jié)約時(shí)間，提高檢測(cè)效率，且通過(guò)軟件對(duì)多點(diǎn)位置自動(dòng)計(jì)算，減小測(cè)量誤差，保證每個(gè)光學(xué)參數(shù)檢測(cè)的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。